Institut Charles Sadron Equipements
Caractérisation
Réfractomètre différentiel
Ce réfractomètre différentiel est utilisé pour mesurer les incréments d'indice de réfraction (dn/dc) hors-ligne.
Fabrication
Spin coater
Appareil permettant le dépôt de solution de polymère sur une surface tournante
Microscopie
Microscope Numérique Keyence
Microscope optique (Keyence VHX-5000) à mise au point numérique, qui permet (1) d'obtenir des images focalisées sur u
| Nom | Emplacement | Catégorie | Equipe | Responsable |
|---|---|---|---|---|
| Pince Optique | F142 | Microscopie | MCUBE | Stocco Antonio |
| Microscope Confocal | F142 | Microscopie | MCUBE | Muller Pierre |
| RICM - Interference microscopy | F146 | Microscopie | MCUBE | Muller Pierre |
| Microscope Numérique Keyence | B255 | Microscopie | INCA | Drenckhan Wiebke |
| Appareil d'effluvage ELMO | G114 | Microscopie | PLAMICS | Schmutz Marc |
| Evaporateur de Carbone Edwards Auto 306 | G114 | Microscopie | PLAMICS | Schmutz Marc |
| Microscope Optique Polarisant | G112 | Microscopie | PLAMICS | Carvalho Alain |
| Polisseur Ionique IM4000Plus | C129 | Microscopie | PLAMICS | Carvalho Alain |
| Microscope Électronique à Balayage | F134 | Microscopie | PLAMICS | Carvalho Alain |
| Système de préparation Cryo-MEB | F134 | Microscopie | PLAMICS | Carvalho Alain |
| Métalliseur | G114 | Microscopie | PLAMICS | Carvalho Alain |
| Microscope à transmission | G108 | Microscopie | PLAMICS | Schmutz Marc |
| porte échantillon cryologies | G108 | Microscopie | PLAMICS | Schmutz Marc |
| porte-échantillon chauffant | G108 | Microscopie | PLAMICS | Schmutz Marc |
| machine de cryo fracture | G114 | Microscopie | PLAMICS | Schmutz Marc |
| évaporateur de Carbone sous vide primaire | G114 | Microscopie | PLAMICS | Schmutz Marc |
| Machine de vitrification | G118 | Microscopie | PLAMICS | Schmutz Marc |
| Microscope à Force Atomique (AFM) | H0-30 | Microscopie | PLAMICS | Contal Christophe |