Institut Charles Sadron Equipements


Pendant drop tensiometre (TRACKER TECLIS)

This Pendant Drop Tensiometre (TRACKER from TECLIS) analyses in a fully automatic manner the shape of pending/rising bub


Discover SP - Microwave reactor

Synthesis under pression in flasks from 5 to 125ml. Temperature maximum of 300°C with IR reader. Power up to 300 W (m


RICM - Interference microscopy

Reflection Interference Contrast Microscopy (RICM) is devoted to the observation of an object on a glass surface, with a

Nom Emplacement Catégorie Equipe Responsable
Ellipsometry F136 CaractérisationMCUBEStocco Antonio
Optical Tweezers F142 MicroscopieMCUBEStocco Antonio
F246 CaractérisationPECMATPauly Matthias
Confocal Microscopy F142 MicroscopieMCUBEMuller Pierre
Isothermal titration calorimetry C125 CaractérisationMCUBESchmatko Tatiana
Electroporation F146 CaractérisationMCUBEMuller Pierre
RICM - Interference microscopy F146 MicroscopieMCUBEMuller Pierre
A337 CaractérisationPECMATBoulmedais Fouzia
A335 CaractérisationPECMATBoulmedais Fouzia
A335 CaractérisationPECMATBoulmedais Fouzia
A339 FabricationPECMATBoulmedais Fouzia
A339 FabricationPECMATBoulmedais Fouzia
A339 CaractérisationPECMATBoulmedais Fouzia
Static and dynamic light scattering F136 CaractérisationCarMacSchosseler François
Numerical microscope Keyence B255 MicroscopieMIMDrenckhan Wiebke
DNA Synthesizer B327 FabricationLutz Jean-François
DNA Synthesizer C313 FabricationLutz Jean-François
Automated platform for synthesis B327 FabricationLutz Jean-François
High-Performance Liquid Chromatography C313 CaractérisationLutz Jean-François
Glove box G116 FabricationSYCOMMORBrinkmann Martin
4 Probes- Resistivity and Seebeck  measurements G116 CaractérisationSYCOMMORBrinkmann Martin
Rubbing machine G120 FabricationSYCOMMORBrinkmann Martin
Discover SP - Microwave reactor D307 FabricationSYCOMMORRuiz Carretero Amparo
TGA E349 CaractérisationCarMacLegros Mélanie
DSC E344 CaractérisationCarMacSaettel Herr Catherine
Spectrofluorometer E348 CaractérisationCarMacDe Maria Anaïs
UV-Vis-NIR spectrophotometer Lambda 25 E348 CaractérisationCarMacDe Maria Anaïs
UV-Vis-NIR Spectrophotometer Cary 5000 E348 CaractérisationCarMacDe Maria Anaïs
Dynamic light scattering and zeta potential E348 CaractérisationCarMacLegros Mélanie
Capillary Viscosimeter E348 CaractérisationCarMacFoussat Catherine
Differential refractometer E346 CaractérisationCarMacLegros Mélanie
ELMO glow discharge system G114 MicroscopiePLAMICSSchmutz Marc
Edwards Auto 306 Evaporator G114 MicroscopiePLAMICSSchmutz Marc
SEC in THF n°1 E346 CaractérisationCarMacDe Maria Anaïs
SEC in THF n°2 E346 CaractérisationCarMacDe Maria Anaïs
SEC in organic solvent E346 CaractérisationCarMacFoussat Catherine
SEC in polar organic solvents E348 CaractérisationCarMacFoussat Catherine
SEC in aqueous solvent n°1 E346 CaractérisationCarMacFoussat Catherine
SEC in aqueous solvent n°2 E346 CaractérisationCarMacLegros Mélanie
Bruker Vertex 70 Infrared spectrophotometer E350 CaractérisationCarMacDe Maria Anaïs
Thin Film Pressure Balance F046 CaractérisationMIMDrenckhan Wiebke
Numerical micromill F050 FabricationMIMDrenckhan Wiebke
Foam analyser (FOAMSCAN) A159 CaractérisationMIMDrenckhan Wiebke
Sclerometer (instrumented scratch test apparatus) G004 CaractérisationMinamecFavier Damien
Tensile machine G006 CaractérisationMinamecFavier Damien
Dynamic tensile machine G008 FabricationMinamecFavier Damien
NanoIndenter - NanoScratch G001 CaractérisationMinamecFavier Damien
Tribometer G008 CaractérisationMinamecFavier Damien
Micro Tribometer F144 CaractérisationMIMFavier Damien
Dynamic JKR G004 CaractérisationMinamecFavier Damien
X-ray CT scanner G014 CaractérisationMinamecEgele Antoine
Polarized Light Microscope G112 MicroscopiePLAMICSCarvalho Alain
Pendant drop tensiometre (TRACKER TECLIS) B255 CaractérisationMIMJacomine Leandro
Rheometre A159 CaractérisationMIMJacomine Leandro
Tensiomètre (type Wilhelmy) B255 CaractérisationMIMJacomine Leandro
Foam analyser (FOAMSCAN TECLIS) A159 CaractérisationMIMDrenckhan Wiebke
"Double bubble" experiment B255 CaractérisationMIMJacomine Leandro
Ion Milling System IM4000Plus G114 MicroscopiePLAMICSCarvalho Alain
Scanning Electron Microscope F134 MicroscopiePLAMICSCarvalho Alain
Cryo-SEM Preparation System F134 MicroscopiePLAMICSCarvalho Alain
Sputter coater G114 MicroscopiePLAMICSCarvalho Alain
Mini Gel Electrophoresis Systems C315 CaractérisationLutz Jean-François
DMA Mettler Toledo G008 CaractérisationMinamecFavier Damien